Unterschied zwischen AFM und STM Unterschied zwischen
AFM bezieht sich auf Rasterkraftmikroskop und STM bezieht sich auf Rastertunnelmikroskop. Die Entwicklung dieser beiden Mikroskope gilt als eine Revolution im atomaren und molekularen Bereich.
Wenn Sie von AFM sprechen, werden präzise Bilder aufgenommen, indem Sie eine nanometergroße Spitze über die Bildoberfläche bewegen. Das STM erfasst Bilder mithilfe von Quantentunneln.
Von den beiden Mikroskopen wurde das Rastertunnelmikroskop als erstes entwickelt.
Im Gegensatz zum STM trifft die Sonde direkten Kontakt zur Oberfläche oder berechnet die beginnende chemische Bindung in AFM. Die STM-Bilder werden indirekt durch Berechnen des Quantengrad-Tunnelns zwischen der Sonde und der Probe erzeugt.
Ein weiterer Unterschied besteht darin, dass die AFM-Spitze die Oberfläche leicht berührt, während die Spitze bei STM in einem geringen Abstand zur Oberfläche gehalten wird.
Im Gegensatz zum STM misst das AFM nicht den Tunnelstrom, sondern misst nur die geringe Kraft zwischen der Oberfläche und der Spitze.
Es wurde auch festgestellt, dass die AFM-Auflösung besser ist als die STM. Aus diesem Grund ist AFM in der Nanotechnologie weit verbreitet. Wenn man von der Abhängigkeit zwischen Kraft und Entfernung spricht, ist das AFM komplexer als das STM.
Wenn das Rastertunnelmikroskop normalerweise auf Leiter anwendbar ist, ist das Rasterkraftmikroskop sowohl für Leiter als auch für Isolatoren geeignet. Das AFM passt gut zu Flüssigkeiten und Gasen, während STM nur im Hochvakuum arbeitet.
Im Vergleich zu STM bietet das AFM eine direktere Höhenmessung und bessere Oberflächeneigenschaften.
Zusammenfassung
1. AFM erfasst präzise Bilder, indem eine nanometergroße Spitze über die Bildoberfläche bewegt wird. Das STM erfasst Bilder mithilfe von Quantentunneln.
2. Die Sonde nimmt direkten Kontakt mit der Oberfläche auf oder berechnet die beginnende chemische Bindung in AFM. Die STM-Bilder werden indirekt durch Berechnen des Quantengrad-Tunnelns zwischen der Sonde und der Probe erzeugt.
3. Die Spitze in AFM berührt die Oberfläche sanft berührt die Oberfläche während in STM, die Spitze in einem kurzen Abstand von der Oberfläche gehalten wird.
4. Die AFM-Auflösung ist besser als die STM. Aus diesem Grund ist AFM in der Nanotechnologie weit verbreitet.
5. Wenn das Rastertunnelmikroskop normalerweise auf Leiter anwendbar ist, ist das Rasterkraftmikroskop sowohl auf Leiter als auch auf Isolatoren anwendbar.
6. Das AFM passt gut zu Flüssigkeiten und Gasen, während STM nur im Hochvakuum arbeitet.
7. Von den beiden Mikroskopen wurde das Rastertunnelmikroskop als erstes entwickelt.
