Unterschied zwischen AFM und SEM
AFM vs SEM
Die Erforschung der kleineren Welt hat mit der jüngsten Entwicklung neuer Technologien wie der Nanotechnologie, Mikrobiologie und Elektronik. Da das Mikroskop das Werkzeug ist, das die vergrößerten Bilder der kleineren Objekte liefert, wird viel Forschung zur Entwicklung verschiedener Techniken der Mikroskopie zur Erhöhung der Auflösung durchgeführt. Obwohl das erste Mikroskop eine optische Lösung ist, bei der Linsen verwendet wurden, um die Bilder zu vergrößern, verfolgen gegenwärtige hochauflösende Mikroskope unterschiedliche Ansätze. Rasterelektronenmikroskop (SEM) und Rasterkraftmikroskop (AFM) basieren auf zwei derart unterschiedlichen Ansätzen.
AFM (AFM)AFM verwendet eine Spitze, um die Oberfläche der Probe zu scannen, und die Spitze bewegt sich entsprechend der Beschaffenheit der Oberfläche auf und ab. Dieses Konzept ähnelt der Art und Weise, wie ein blinder Mensch eine Oberfläche versteht, indem er seine Finger über die gesamte Oberfläche drückt. Die AFM-Technologie wurde 1986 von Gerd Binnig und Christoph Gerber eingeführt und war seit 1989 im Handel erhältlich.
Rasterelektronenmikroskop (SEM)
REM verwendet für die Bildgebung einen Elektronenstrahl anstelle von Licht. Es hat eine große Tiefe im Feld, die es Benutzern ermöglicht, ein detaillierteres Bild der Probenoberfläche zu beobachten. AFM hat auch eine größere Kontrolle über die Vergrößerung, da ein elektromagnetisches System verwendet wird.
Im REM wird der Elektronenstrahl mit einer Elektronenkanone erzeugt und durch einen vertikalen Weg entlang des Mikroskops geführt, der in einem Vakuum angeordnet ist. Elektrische und magnetische Felder mit Linsen fokussieren den Elektronenstrahl auf die Probe. Sobald der Elektronenstrahl auf die Probenoberfläche trifft, werden Elektronen und Röntgenstrahlen emittiert. Diese Emissionen werden erkannt und analysiert, um das Materialbild auf den Bildschirm zu bringen. Die Auflösung von SEM liegt im Nanometerbereich und hängt von der Strahlenergie ab.
Da das SEM im Vakuum betrieben wird und im Bildgebungsverfahren auch Elektronen verwendet werden, sollten bei der Probenvorbereitung besondere Verfahren eingehalten werden.
SEM hat eine sehr lange Geschichte seit seiner ersten Beobachtung von Max Knoll im Jahr 1935. Erste kommerzielle SEM war 1965 verfügbar.
Unterschied zwischen AFM und SEM